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ビームラインの特徴

ニュースバル放射光施設の産業用分析ビームラインBL05はA、Bと呼ばれる2本のブランチ(枝)に分かれています。BL05A(ライン全長16.6 m)では950-4000 eVの高エネルギー側領域の、BL05B(ライン全長32.0 m)では50-1300 eVの低エネルギー側領域の放射光を励起光に用いてXAFS法による測定を行います。BL05Aでは二結晶分光器、BL05Bでは3枚の平面型不等間隔刻線回析格子を備えた分光器を用いて、励起に用いたいエネルギーを持つ放射光を選択的に取り出します(これを分光と呼びます)。測定する元素のX線吸収端に応じてA、Bを使い分けます。

BL05Aの概略図(図をクリックすると拡大)
図中の放射光の進行方向は左から右


BL05Bの概略図(図をクリックすると拡大)

図中の放射光の進行方向は左から右
BL05で行うXAFS測定の特徴
●BL05で行うXAFS法は全電子収量(Total Electron Yield, TEY)法と部分蛍光収量(Partial Fluorescence Yield, PFY)法の2種類です。XAFS法として一般的にイメージされる透過法とは異なり、TEY法、PFY法では十分に厚みのある塊(バルク)状試料、粉体試料の測定が可能です。固体試料の測定は10-6 Pa以下の高真空下で行います。
●BL05Aでは袋詰めし、封入した液体試料を大気圧Heガス雰囲気下でXAFS測定することができます。
ビーム
ライン
BL05A BL05B
エネルギー範囲 950-4000 eV 50-1300 eV
分光器 数値制御方式
二結晶分光器

分光結晶:InSb(111),
Si(111) など
平面型不等間隔刻線
回折格子

100, 300, 800 (lines/mm)
測定手法 XAFS法
(TEY法, PFY法)
XAFS法
(TEY法, PFY法)
PFY法用検出器 シリコンドリフト
検出器 (Vortex)
シリコンドリフト
検出器 (Ourstex)
測定試料 固体(塊状, 薄膜, 粉末),
液体(大気圧Heガス
雰囲気下)
固体(塊状, 薄膜, 粉末)
■スペクトル例・技術資料
技術資料3 XAFS3 DLC膜カテゴライズ
技術資料6 XAFS6 応用例
技術資料8 XAFS8 XAFS最新データ
技術資料9 XAFS9 ビームライン
BL05スペクトル集
※下記元素の最新スペクトルが参照可能です。
 BL05A K吸収端 Mg, Al, Si, K, Ca
 BL05B K吸収端 C, N, F
ポスター
産業用分析ビームライン(BL05)の現況について
産業用分析ビームラインの利用状況について
産業用分析ビームライン(BL05)
産業用分析ビームライン(BL05)の高度化について
ニュースバル産業用分析ビームライン(BL05)の利用支援
放射光分析研修事業
 
 
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